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Bienvenue sur la collection HAL du laboratoire CROMA
CROMA (Centre de Radiofréquences Optique et Micro-Nanoélectronique des Alpes), anciennement IMEP-LAHC, est une Unité Mixte de Recherche "UMR 5130" (CNRS / Grenoble INP / UGA / Université SAVOIE Mont-Blanc), fortement impliquée dans les recherches relatives à la micro et nano électronique, à la microphotonique, aux micro et nano-systèmes, aux microondes et optomicroondes.
Les activités de recherche sont regroupées autour de 3 équipes : Dispositifs HypeRfréquences pour l'Electronique durAble et les Milieux complexeS (DHREAMS), Composants Micro Nano Electroniques (CMNE) et PHOtonique, Térahertz et Optoélectronique (PHOTO).
Dernières publications
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Vincent Grennerat, Georges Zakka El Nashef, Ahmad Sabra, Pascal Xavier, Thierry Lacrevaz, et al.. Exploring PLA/Flax Substrates for Antenna Applications: Assessing Moisture, Temperature and Dielectric Constant Homogeneity. 18TH EUROPEAN CONFERENCE ON ANTENNAS & PROPAGATION, Mar 2024, Glasgow (Ecosse), United Kingdom. ⟨hal-04553059⟩
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Gaudencio Paz-Martínez, Philippe Artillan, Javier Mateos, Edouard Rochefeuille, Tomás González, et al.. A Closed-Form Expression for the Frequency-Dependent Microwave Responsivity of Transistors Based on the I -V Curve and S-Parameters. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2024, 72 (1), pp.415-420. ⟨10.1109/TMTT.2023.3291391⟩. ⟨hal-04510355⟩
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Donghyun Kim. Characterization and modelling of MOS transistors from advanced technologies (FDSOI, nanowire, GaN HEMT, LTPS…). Micro and nanotechnologies/Microelectronics. Université Grenoble Alpes [2020-..]; Koryŏ taehakkyo. Asea munje yŏn’guso (Séoul, Corée S.), 2023. English. ⟨NNT : 2023GRALT086⟩. ⟨tel-04531810⟩
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Farah Aljammal, Gwenaël Gaborit, Sylvain Iséni, Maxime Bernier, Guillaume Chevrier-Gros, et al.. Potentialities and limitations of an electro-optic probe for electric field diagnostics of cold atmospheric pressure plasma jets. The European Physical Journal D : Atomic, molecular, optical and plasma physics, 2023, Low Temperature Plasmas: Processes and Diagnostics for Future Applications, 77 (11), pp.199. ⟨10.1140/epjd/s10053-023-00781-8⟩. ⟨hal-04292090⟩
Collaborations
Documents en texte intégral
572
Notices
2 959
Mots clés
Permittivity
Mismatch
Electrical characterization
ZnO
Compact model
Carrier mobility
MOSFETs
DNA
Threshold voltage
GaN
Graphene
FinFET
Compact modeling
Fdsoi
Low-frequency noise LFN
Air-filled substrate integrated waveguide AFSIW
Optoelectronics
MOSFET
Mechanical energy harvesting
Capacitance
Silicon carbide
Optique intégrée
1T-DRAM
Intégration 3D
ESD
Field effect transistors
Mobilité
Variability
Integrated optics
Piezoelectricity
Drain current
Metamaterials
Coupling
Biosensor
Authentication
DRAM
Characterization
Silicon nanowire
Caractérisation
SiGe
Antenna
Band-to-band tunneling
Solar cell
Pseudo-MOSFET
AlGaN/GaN
Fd-Soi
FDSOI
TCAD
Parameter extraction
2DEG
Simulation
ZnO nanowires
HfO2
Nanowires
Silicon
Tunnel FET
FD-SOI
Nanonet
Terahertz
BTI
Sharp switch
Transistor MOS
Silicon-on-insulator SOI
Modelling
Interface trap density
Z2-FET
Coplanar waveguide
Nanowire
Fiabilité
CMOS
Metal gate
Caractérisation électrique
Numerical simulation
Variabilité
Nanofil
Mobility
Low-frequency noise
Ion exchange
A2RAM
MOS transistor
SOI
Radiofréquences
Mosfet
Reliability
Microélectronique
Elemental semiconductors
Band modulation
Low frequency noise
Nanogenerators
TFET
Antenne
Magnetoresistance
Modélisation
Low temperature
Silicon-on-insulator
Rectenna
Modeling
Nanostructures
Energy harvesting
CMOS integrated circuits